セディグラフIII5120は、粒子形状に依存することなく、球形以外の棒状や扁平な形状でも抜群の再現性 。 高度に正確に、そして再現性可能なセディメンテ-ション技法（X線/液相沈降）を使って粒子サイズを決定します。 種々様々なマテリアルの粒子サイズ情報を供給するため、最も自然な理論を使った有効な測定技術とその測定装置です。 セディグラフ・シリーズは粒度分布計測器のベストセラーとして全世界で高いシェアを獲得してきました。 最新のコンピュータ・コントロールにより300〜0.1μmの粒子サイズを高速・高精度に比較します。

測定原理

液相沈降法を採用し，Stokesの法則に基づいて粒子径を測定します｡
また，沈降中の懸濁液にＸ線ビームを照射し，そのＸ線透過量から
Lamber‐Beerの法則に従って粒度分布を測定します｡

特長

• X線（波長1.25Å）の採用によりサブミクロンまでを高精細測定
• 最短わずか３分の高速測定
• コンピュータ制御により全自動測定
• 0.1μmから300μmまでのワイドレンジ測定
• 水以外に各種の溶剤を使用可能
• プロセスコントロール・チャートの出力が可能
• 各種分析レポートの出力が可能
• マルチタスク及びリアルタイムソフトウェアを搭載
• コンパクト設計
• オートサンプラーとの接続による自動計測が可能

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